杭州高裕电子科技股份有限公司

产品展示

Product Demonstration

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产品展示

高温反偏老化测试系统(单管、TJ型、电子开关保护)

符合标准:

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标准。

适用范围:

适用于各种封装形式的二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT单管等器件进行高温反偏试验(HTRB)和高温漏流测试(HTIR)。

技术特点:

可实时监测每个的结温TJ。

实时监测每个试验器件的漏电流。

每个回路漏电流超上限电子开关断电保护。

全过程试验数据保存于硬盘中,可输出Excel试验报表和绘制全过程漏电流IR变化曲线。


技术性能

表格 p16.png